Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應用。 通過標準的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面，Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的激光光束。 通過選擇硅和InGaAs或擴展的InGaAs，Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機的系統(tǒng)更高的分辨率。
我們一站式供應各種類型的激光分析儀，光束分析儀，光斑分析儀，光斑輪廓測量儀，狹縫掃描儀，光束質(zhì)量分析儀，激光斷面分析儀，光束輪廓儀，可提供選型、技術指導、安裝培訓、個性定制等全生命周期、全流程服務，歡迎聯(lián)系我們！
Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應用。 通過標準的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面，Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的激光光束。 通過選擇硅和InGaAs或擴展的InGaAs，Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機的系統(tǒng)更高的分辨率。
產(chǎn)品特點：
多種檢測器選項，范圍為 190 至 2500 nm
190 至 1150 nm，硅探測器
650 至 1800 nm，InGaAs 探測器
1800 至 2300/2500 nm，InGaAs（擴展）探測器
符合 ISO 標準的光束直徑測量
端口供電的 USB 2.0
自動增益功能
用于符合 ISO 11146 標準的 M2 測量的可選載物臺附件
True2D? 狹縫
分辨率達 0.1 μm
5 Hz 更新速率（可調(diào) 2 至 10 Hz）
剖面 CW/準連續(xù)波光束
光束直徑 5 μm 至 4 mm，刀鋒模式下為 2 μm
典型應用：
非常小的激光光束輪廓分析
光學組裝和儀器調(diào)校
OEM 集成
鏡頭焦距測試
實時診斷聚焦和對準錯誤
實時將多個組件設置到同一焦點
使用可用的 M2DU 階段進行 M2 測量
規(guī)格參數(shù)：
| 項目 | 詳情 |
| 波長范圍 | Si 探測器：190 to 1150 nmInGaAs 探測器：650 to 1800 nm Si + InGaAs 探測器：190 to 1800 nm Si + 擴展 InGaAs 探測器：190 to 2300 或 2500 nm |
| 掃描光束直徑 | Si 探測器：5 μm 至 4 mm，刀口模式下最小至 2 μm InGaAs 探測器：10 μm 至 3 mm，刀口模式下最小至 2 μm 擴展 InGaAs 探測器：10 μm 至 2 mm，刀口模式下最小至 2 μm |
| 光束腰直徑測量 | 二階矩（4σ）直徑，符合 ISO 11146 Gaussian 與 Top Hat 擬合 1/e2（13.5%）寬度 用戶可選百分比峰值 適用于極小光束的刀口模式 |
| 支持測量光源 | CW（連續(xù)波）、Quasi-CW（準連續(xù)波）光源 |
| 分辨率精度 | 0.1 μm 或掃描范圍的 0.05% ± < 2%，或 ± = 0.5 μm |
| 最大功率與輻照度 | 最大總功率 1 W，最大功率密度 0.5 mW/μm2 |
| 增益范圍 | 開關控制增益范圍 1,000:1 ADC 動態(tài)范圍 4,096:1 |
| 圖形顯示 | X-Y 位置與輪廓圖，支持 x1 至 x16 縮放 |
| 更新速率 | 約 5 Hz，可調(diào)節(jié)范圍 2 至 10 Hz |
| 合格/不合格顯示 | 屏幕可選擇合格/不合格顏色，適合質(zhì)檢與生產(chǎn)使用 |
| 平均功能 | 用戶可選運行平均（1 至 8 次采樣） |
| 統(tǒng)計功能 | 最小值、最大值、平均值、標準差支持長時間數(shù)據(jù)記錄 |
| XY 輪廓與重心 | 支持光束漂移顯示與記錄 |
| 最低系統(tǒng)要求 | Windows 10 64-bit |
輪廓圖：
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